企业信息
业务领域
研究开发
投资信息
CN
KR
EN
JP
公司介绍
企业信息
认证中心
工厂及办公地点
二次电池
半导体/PCB
显示器
研究开发
下一代工艺设备开发
先进光学技术开发
财务信息
宣传中心
企业信息
公司介绍
企业信息
认证中心
工厂及办公地点
业务领域
二次电池
半导体/PCB
显示器
研究开发
研究开发
下一代工艺设备开发
先进光学技术开发
投资信息
财务信息
宣传中心
研究开发
先进光学技术开发
首页
研究开发
先进光学技术开发
Back
绝对测量
基于图像处理的绝对尺寸测量
通过检测器获取亮度值进行信号处理,以提取边界像素
Contact Us